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Werne & Thiel OLAS - 吸收測定和密度測量
由“Werne & Thiel GbR”公司制造的光學光吸附傳感器（OLAS）將光發(fā)送到感興趣的材料（介質）中，并利用精確測量的光吸收來確定介質的成分。通過這種方法，不僅可以確定水漿、懸浮液和各種復合材料（例如水泥漿、化學紙漿等）的成分，還可以確定箔和涂層的厚度等。無論在生產、制造或加工過程中，任何導致介質吸收變化的因素都可以由OLAS測量、監(jiān)測和控制。
Werne & Thiel 混凝土殘余水中的密度測量
OLAS測量系統(tǒng)是一種用于測定混凝土循環(huán)水固體含量的在線測量系統(tǒng)，其開發(fā)始于近十年前。如今，已經開發(fā)出一種可靠且經濟的測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)已達到批量生產成熟度。OLAS以其功能命名：“光學光吸收傳感器”。OLAS利用復雜的紅外吸收測量方法，其中測量光通過光纖引入介質中。如果需要，OLAS可以由OLASTPC（OLAS觸摸屏控制器）補充，這是一個最佳的評估，顯示和控制單元，以形成一個完整的測量系統(tǒng)。
Werne & Thiel OLAS - 功能性原則和特定特性：
由“Werne&Thiel GbR”公司制造的光學光吸附傳感器（OLAS）將光發(fā)送到感興趣的材料（介質）中，并利用精確測量的光吸收來確定介質的成分。通過這種方法，不僅可以確定水漿、懸浮液和各種復合材料（例如水泥漿、化學紙漿等）的成分，還可以確定箔和涂層的厚度等。無論在生產、制造或加工過程中，任何導致介質吸收變化的因素都可以由OLAS測量、監(jiān)測和控制。
發(fā)射器和接收器之間的距離：
由于光吸收因應用而異，因此OLAS的光路可以適應感興趣的介質：高吸收介質需要在發(fā)射器和接收器之間保持較小的距離，以允許足夠的強度到達接收器，而對于低吸收介質，另一方面，發(fā)射器和接收器之間的距離必須大得多。
根據1...10的內部信號，OLAS可以處理高達000到000，0，700的光強度變化。“0”是測量完全非吸收介質時的結果，而“700”表示最大吸收。
現在的關鍵任務是為每個感興趣的介質選擇發(fā)射器和接收器之間的距離，以便使用“0...700”的整個測量范圍。這可能意味著，對于高吸收介質，距離只有幾毫米，而對于低吸收介質，距離可以是一米甚至更長。
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抑制環(huán)境光：Werne & Thiel OLAS 對環(huán)境光的抑制能力非常高。不僅恒定光（陽光等）被抑制，而且調制光，例如熒光燈的光。
如果光學器件完全浸入介質中，環(huán)境光無論如何都不會起作用，因為環(huán)境光被吸收介質高度吸收。但有時，如果發(fā)射器和接收器之間的距離比測量介質的厚度更遠，例如，如果測量箔的厚度或類似，那么，盡管如此，在某些應用中，環(huán)境光最終可能會到達接收器，而測量光的強度可能相當低。即便如此，在大多數情況下，OLAS對環(huán)境光的抑制也足夠高，除非您直接通過強光源（例如強熒光燈）使接收器失明。
很容易找出您的應用中的環(huán)境光抑制是否足夠高：將高吸收介質引入發(fā)射器和接收器之間的光路，并將“觸摸面板控制器”（TPC）“關閉”的平均時間設置為“關閉”。在“記錄器”模式下，現在應該可以看到恒定的讀數，也許疊加了一些小的噪聲峰值?，F在，降低環(huán)境光的強度，并確保讀數是否在變化。如果有變化，您應該以合適的方式將光學器件遮擋在環(huán)境光下。但請記住，平均法也將極大地減少環(huán)境光的影響。
測量范圍：Werne & ThielOLAS 只需要一個測量范圍即可覆蓋 1：10，000，000（內部甚至 1：100，000，000）的整個動態(tài)范圍。因此，測量時無需在多個測量范圍之間切換。這消除了開關期間沒有有效信號時不可接受的死區(qū)時間。僅使用一個測量范圍使OLAS非?？焖俸途_：信號瞬時變化的建立時間（10，000，000：1）僅為約30毫秒！如果必須測量快速變化介質的吸收，例如，當不均勻介質通過管道泵送并將 OLAS 安裝在那里時，快速穩(wěn)定時間至關重要。
光學元件污染：
許多其他光學測量系統(tǒng)在光學元件上存在污垢和劃痕的嚴重問題，因為這種污染會導致額外的和高度不必要的光吸收。這是有問題的，因為對于這些產品，污染物很容易吸收與介質本身一樣多的光，從而導致相當大的測量誤差。
由于 OLAS 設計用于處理極高吸收介質，因此 OLAS 不易受到光學元件的污染，因為培養(yǎng)基通常吸收的光比污染多得多。因此，通常情況下，光學元件上的污染對OLAS測量精度的影響可以忽略不計。
為了進一步減少這種影響，例如在測量高磨蝕性介質時，客戶可以根據需要訂購“老化”光學器件。
偏移調整：有時，在客戶校準Werne & Thiel OLAS后，必須更換或更換光學元件。之后是否要再次校準 OLAS？
不一定：之后發(fā)射器和接收器之間的距離是否與以前完全相同（從窗口到窗口），那么OLAS提供了一種獨特的偏移調整方法，只需要稍后進行更改即可進行補償?？蛻敉瓿傻某跏夹嗜匀挥行?，不需要任何更改！
這種偏移-調整方法需要在進行初始校準時確定 OLAS 應用的附加特征參數，稱為“初始吸收”：將
OLAS 的光學元件放入眾所周知的吸收介質（例如清水）中，并測量和存儲此“初始吸收”。之后調整偏移時，由于隨后更改或更換了OLAS的組件，請將OLAS的光學元件再次帶入該定義的介質中。現在，OLAS 計算“初始吸收”的差異（偏移?。┎⒋鎯Υ?ldquo;偏移”。然后通過從測量值中減去該偏移來校正所有后續(xù)測量值?？蛻敉瓿傻某跏夹嗜匀挥行?！這種偏移調整可以根據需要隨時進行。
當然，這種偏移調整方法也可用于校正光學元件上污染（污垢、劃痕等）的影響。
這種偏移調整方法的關鍵點是，發(fā)射器和接收器之間的距離（具體來說，屏蔽介質的厚度）必須始終完全相同。如果發(fā)射器和接收器之間的距離因任何原因發(fā)生變化，則初始校準不再有效！
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